skip to Main Content
نقشه برداری پراش الکترونی سریع: نقاشی با اعداد ​

نقشه برداری پراش الکترونی سریع: نقاشی با اعداد ​

عنوان انگلیسی: Rapid electron backscatter diffraction mapping: Pa
سال نشر: ۲۰۱۹
نویسنده: Vivian S. Tong,Alexander J. Knowles,David Dye,T. Ben Britton
تعداد صفحه فارسی: ۱۷ – تعداد صفحه انگلیسی: ۹
دانشگاه: Department of Materials, Imperial College London, Exhibition Road, London SW7 2AZ, United Kingdom
نشریه: Process Safety and Environmental Protection
کیفیت ترجمه: ترجمه پلاس

چکیده

خصوصیات میکروساختار (ساختمان میکروسکپی بافت یا اشیا ) با استفاده از پراش پراکندگی الکترونی (ebsd)افزایش زیادی یافته‌است که در آن نقشه‌های غنی از طریق آنالیز فاز کریستالی و جهت‌یابی در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)ایجاد شده‌اند. تجزیه و تحلیل EBSD متعارف شامل اسکن رادیکال پرتو الکترونی و تجزیه و تحلیل سریالی هر الگوی پراکندگی به نوبه خود است. برای شکل دانه، بافت کریستالوگرافی و آنالیز میکروساختار، این می‌تواند ناکارآمد باشد. در این مقاله، EBSD سریع ، یک رویکرد تلفیقی داده ها با استفاده از تصویر برداری فرایندهای الکترونی (FSE) با نمونه برداری اسپات از الگوهای EBSD، ارائه می شود. ما تصویر fse را به بخش‌هایی از رنگ مشابه (فاز و جهت گیری بلور)تقسیم‌بندی می‌کنیم و سپس داده‌های ebsd نماینده برای هر ناحیه بندی را جمع‌آوری می‌کنیم. این کار ارزیابی ریزساختاری را قادر می‌سازد تا در تفکیک فضایی تصویر برداری fse (سریع)، از جمله جهت گیری و اطلاعات فاز از آنالیز ebsd نقاط نماینده، انجام شود. ما تکنیک سریع ebsd را بر روی نمونه‌های یک سوپر آلیاژ پایه کبالت و یک آلیاژ تیتانیوم فاز دوتایی تحت فشار نشان

Abstract

Microstructure characterisation has been greatly enhanced through the use of electron backscatter diffraction (EBSD), where rich maps are generated through analysis of the crystal phase and orientation in the scanning electron microscope (SEM). Conventional EBSD analysis involves raster scanning of the electron beam and serial analysis of each diffraction pattern in turn. For grain shape, crystallographic texture, and microstructure analysis this can be inefficient. In this work, we present Rapid EBSD, a data fusion approach combining forescatter electron (FSE) imaging with static sparse sampling of EBSD patterns. We segment the FSE image into regions of similar colour (i.e. phase and crystal orientation) and then collect representative EBSD data for each segmented region. This enables microstructural assessment to be performed at the spatial resolution of the (fast) FSE imaging whilst including orientation and phase information from EBSD analysis of representative points. We demonstra
۲۷۰,۰۰۰ ریال – خرید
امتیاز شما:
(No Ratings Yet)
Back To Top